Micropioneer XRF-2000L膜厚測試儀

韓國微先鋒系列

功能及應用:快速無損測量電鍍層厚度

可測單鍍層，雙鍍層，多鍍層及合金鍍層

儀器規格

XRF-2020L型:測量樣品長寬55cm,高3cm:臺面載重3kg

XRF-2020H型:測量樣品長寬55cm,高10cm:臺載重5kg

儀器全自動臺面,自動雷射對焦,多點自動測量

多個準直器可選擇：0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.03*0.5mm

可配多個或單個準直器,準直器大小可自動切換

測量原理：

物質經X射線或粒子射線照射后，由于吸收多余的能量而變成不穩定的狀態。從不穩定狀態要回到穩定狀態，此物質必需將多余的能量釋放出來，而此時是以熒光或光的形態被釋放出來。熒光X射線鍍層厚度測量儀或成分分析儀的原理就是測量這被釋放出來的熒光的能量及強度，來進行定性和定量分析。

Micropioneer XRF-2000L測厚儀

功能及應用:快速無損測量電鍍層厚度

可測單鍍層，雙鍍層，多鍍層及合金鍍層

測量鍍金，鍍銀，鍍錫，鍍銀，鍍鎳，鍍銅，鍍鉻，鍍鋅鎳合金等！

Micropioneer XRF-2000L膜厚測試儀