此外，運用微波和激光技術(shù)制成厚度計，現(xiàn)在還處在研發(fā)、試驗期間。X光鍍層測厚儀可測量磁性金屬基體（如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等）上非磁性涂層的厚度（如鋁、鉻、銅、搪瓷、橡膠、油漆等）及非磁性金屬基體（如銅、鋁、鋅、錫等）上非導電覆層的厚度（如：搪瓷、橡膠、油漆、塑料等）。既可用于實驗室中的精細測量，也可用于工程現(xiàn)場廣泛地運用在金屬制造業(yè)、化工業(yè)、航空航天、科研開發(fā)等范疇，是企業(yè)確保產(chǎn)品質(zhì)量、商查看控、*的查看儀器。

　　

　　X光鍍層測厚儀作業(yè)原理：

　　膜厚儀采用了磁性和渦流兩種測厚方法，可無損地測量磁性金屬基體（如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等）上非磁性覆蓋層的厚度（如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆等)及非磁性金屬基體（如銅、鋁、鋅、錫等）上非導電覆蓋層的厚度（如：琺瑯、橡膠、油漆、塑料等）。

　　1、磁性法：當測量頭與覆蓋層接觸時，測量頭和磁性金屬基體構(gòu)成一閉合磁路，由于非磁性覆蓋層的存在，使磁路磁阻變化，通過測量其變化可導出覆蓋層的厚度。

　　2、渦流法：利用高頻交變電流在線圈中產(chǎn)生一個電磁場，當測量頭與覆蓋層接觸時，金屬基體上產(chǎn)生電渦流，并對測量頭中的線圈產(chǎn)生反饋作用，通過測量反饋作用的大小可導出覆蓋層的厚度。